理解高分子體系宏觀性能的基礎(chǔ)是對(duì)其微觀結(jié)構(gòu)的準(zhǔn)確認(rèn)識(shí)，表征高分子體系微觀結(jié)構(gòu)常見的手段包括以 TEM, SEM, AFM 等為代表的顯微學(xué)實(shí)空間方法和以 X 射線及中子散射與衍射為代表的倒空間方法。兩類實(shí)驗(yàn)手段互相補(bǔ)充、印證，缺一不可。實(shí)空間手段因其結(jié)果直觀而受到歡迎致使人們往往忽略了其統(tǒng)計(jì)平均性差的缺點(diǎn)，倒空間的手段盡管無法提供直接的微觀形貌，但其結(jié)果包含大量樣本的平均信息而受到重視。另外，近年來發(fā)展起來的同步輻射技術(shù)使得 X 射線散射實(shí)驗(yàn)可以達(dá)到甚至遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于高分子體系結(jié)構(gòu)形成與演化的時(shí)間尺度，這就使得實(shí)時(shí)在線的研究工作成為可能。本報(bào)告將介紹 X 射線小角散射的主要特點(diǎn)及其在表征高分子結(jié)構(gòu)演化方面的優(yōu)勢(shì)。通過若干實(shí)驗(yàn)實(shí)例，重點(diǎn)闡述本課題組在利用 X 射線散射與衍射手段研究結(jié)晶高分子體系在拉伸形變過程中的微觀結(jié)構(gòu)演化行為方面的工作，進(jìn)而總結(jié)相關(guān)體系塑性形變的微觀機(jī)理。
