掃描電鏡(SEM)主要應(yīng)用于各種材料的形貌、組織觀察，包括：有機(jī)材料、非均相催化劑材料、高分子材料、生物材料、無機(jī)材料、金屬材料和各種復(fù)合材料等。
主要特點(diǎn)及技術(shù)參數(shù)：
- 全數(shù)字化控制系統(tǒng)，高分辨率、高精度的變焦聚光鏡系統(tǒng)，高真空模式可達(dá)3.0 nm，低真空模式可達(dá)4.0 nm；
- 放大倍數(shù) ×5～×300,000；
- 加速電壓0.5 kV至30 kV，既保證高電壓下的高分辨率，也可提供低電壓下高質(zhì)量的圖像；
- 全自動真空控制系統(tǒng)，高、低真空切換，低真空度1 to 270 Pa，
低真空模式下可以觀察到高真空下無法觀察的含水樣品或非導(dǎo)體樣品；
- 全自動電子槍，高靈敏度半導(dǎo)體背散射探頭；
- Smile Shot™軟件保證得到最佳電子光學(xué)參數(shù)，簡易的圖像分析及輸出。
