水平樣品幾何中子反射譜儀的中子光路的調整機構
發明/申請人：張紅霞，袁光萃，程賀，韓志超
專利號/申請號：201120105951.7
授權/申請日期：2012-10-12
本發明涉及水平樣品幾何中子反射譜儀的中子光路的調整機構。所述調整機構包括入射升降機構和反射升降機構；沿著入射中子的光路方向，第一入射狹縫座、入射中子飛行管和第二入射狹縫座依次安裝在入射升降機構上；沿著反射中子的光路方向，第一反射狹縫座、反射中子飛行管和第二反射狹縫座依次安裝在反射升降機構上。本發明的調整機構能夠高精度地調整所述狹縫和中子飛行管的位置，并能夠實現高精度改變中子束的入射角和反射角，獲取高分辨率的散射矢量，且中子束的入射角范圍達-5°～9°，中子束的反射角范圍達-5°～9°，使得測量的散射矢量范圍加大。同時，在入反射角范圍內，樣品能夠始終對準中子束。